技术编号:22467969
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及机械加工领域,具体涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片温控测试台及其温控测试方法。背景技术在对于芯片加工检测过程中,需要对芯片在不同环境温度中的性能参数进行检测,通常通过一个加热器件对测试台或者是检测环境的温度进行升温调节,然后再进行芯片参数的监测。例如,专利申请号:cn110824339a,专利名称:一种交换芯片老化筛选测试的恒温控制装置及方法,公开了一种交换芯片老化筛选测试的恒温控制装置及方法,所述装置包括:芯片测试座,其上集成有热电偶采集头;温度采集器,与热电偶采集头连接,用于...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。