技术编号：24862
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要本实用新型公开一种金属探测器调校装置，包括有MCU、显示控制电路、DAC控制电路、第一DDS控制电路、第二DDS控制电路、第一低通滤波电路、第二低通滤波电路、第一放大电路和第二放大电路；通过配合利用各个电路，实现了一个信号发生器，数字合成来模拟一些常见金属在金属探测器中的响应信号，在金属探测器的生产过程中，直接将本实用新型产生的信号输入至金属探测器的探测电路中，就可以进调试和校准，而不必连接探测线圈并通过探测线圈产生真实的物理信号来进行调试，从而摆脱了受环境电磁干扰的限制，降低了生产难度，大大提高了生产效率...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。