专利名称:金属探测器调校装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开一种金属探测器调校装置，包括有MCU、显示控制电路、DAC控制电路、第一DDS控制电路、第二DDS控制电路、第一低通滤波电路、第二低通滤波电路、第一放大电路和第二放大电路；通过配合利用各个电路，实现了一个信号发生器，数字合成来模拟一些常见金属在金属探测器中的响应信号，在金属探测器的生产过程中，直接将本实用新型产生的信号输入至金属探测器的探测电路中，就可以进调试和校准，而不必连接探测线圈并通过探测线圈产生真实的物理信号来进行调试，从而摆脱了受环境电磁干扰的限制，降低了生产难度，大大提高了生产效率。
【专利说明】金属探测器调校装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及金属探测器领域技术，尤其是指一种金属探测器调校装置。
【背景技术】
[0002]金属探测技术主要是利用电磁感应原理，当前使用最广泛的是VLF连续正弦波技术，通过一个频率较低的连续正弦波驱动发射线圈产生一个交变电磁场，当探测到金属时，接收线圈会接收到一个受金属的涡流感应影响而幅度和相移发生改变的同频率的正弦波。金属探测器就是通过分析信号的幅度和相移，从而区分出金属的种类。
[0003]为了保证金属探测器产品金属区分能力的准确性，就要求产品的探测电路的关键参数基本一致。但由于电子元器件的影响，金属探测器产品之间，探测电路的关键参数不可避免的会存在一些差异，从而影响到探测的准确性。为了减小这种误差，在生产过程中就需要将金属探测器连接上探测线圈进行调校。由于金属探测器具有较高的灵敏度，易受到电磁信号的干扰，要求在一个没有电磁干扰的环境中进行。在生产线上，很难达到这种要求，而且当两台以上的金属探测器工作时，相互之间会受到各自产生的电磁场的电磁干扰而导致无法正常工作，这不利于产线的批量生产。
实用新型内容
[0004]有鉴于此，本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种金属探测器调校装置，其代替探测线圈中真实的物理信号，从而达到不使用探测线圈，金属探测电路中也能接收到与金属信号相同的信号的目的。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案:
[0006]一种金属探测器调校装置，包括有MCU、显示控制电路、DAC控制电路、第一 DDS控制电路、第二 DDS控制电路、第一低通滤波电路、第二低通滤波电路、第一放大电路和第二放大电路；该显示控制电路、DAC控制电路、第一 DDS控制电路和第二 DDS控制电路均与MCU连接，该DAC控制电路连接第二 DDS控制电路，该第一低通滤波电路和第二低通滤波电路分别对应连接第一 DDS控制电路和第二 DDS控制电路，该第一放大电路和第二放大电路分别对应连接第一低通滤波电路和第二低通滤波电路，该第一放大电路短接金属探测器的发射线圈而连接金属探测器的探测电路，该第二放大电路短接金属探测器的接收线圈而连接金属探测器的探测电路。
[0007]作为一种优选方案，所述MCU为型号是STM32R)30C8T6的控制器。
[0008]作为一种优选方案，所述DAC控制电路具有型号为AD5660的DAC器件。
[0009]作为一种优选方案，所述第一 DDS控制电路和第二 DDS控制电路均具有型号为AD9834 的 DDS 器件。
[0010]本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知:
[0011]通过配合利用各个电路，实现了一个信号发生器，数字合成来模拟一些常见金属在金属探测器中的响应信号，在金属探测器的生产过程中，直接将本实用新型产生的信号输入至金属探测器的探测电路中，就可以进调试和校准，而不必连接探测线圈并通过探测线圈产生真实的物理信号来进行调试，从而摆脱了受环境电磁干扰的限制，降低了生产难度，大大提高了生产效率。而且本装置的信号频率可调，能模拟多种常见金属的响应信号，可以用于辅助不同型号的金属探测器的生产，并且在对金属的导电性和导磁性的研宄上也非常具有参考价值。
[0012]为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。
【附图说明】
[0013]图1是本实用新型之较佳实施例的结构示意图。
[0014]附图标识说明:
[0015]10、MCU20、显示控制电路
[0016]30、DAC控制电路40、第一 DDS控制电路
[0017]50、第二 DDS控制电路60、第一低通滤波电路
[0018]70、第二低通滤波电路80、第一放大电路
[0019]90、第二放大电路100、金属探测器
[0020]101、发射线圈102、探测电路
[0021]103、接收线圈。
【具体实施方式】
[0022]请参照图1所示，其显示出了本实用新型之较佳实施例的具体结构，包括有MCU10、显示控制电路20、DAC控制电路30、第一 DDS控制电路40、第二 DDS控制电路50、第一低通滤波电路60、第二低通滤波电路70、第一放大电路80和第二放大电路90。
[0023]该MCU采用型号为STM32R)30C8T6的控制器，这是ST公司的一款基于ARMcortex-MO内核的32位微控制器，有64K Flash Rom和8K SRAM，频率可达48MHz，有2个SPI 接口。
[0024]该显示控制电路20、DAC控制电路30、第一 DDS控制电路40和第二 DDS控制电路50均与MCU 10连接，该DAC控制电路30连接第二 DDS控制电路50，该第一低通滤波电路60和第二低通滤波电路70分别对应连接第一 DDS控制电路40和第二 DDS控制电路50，该第一放大电路80和第二放大电路90分别对应连接第一低通滤波电路60和第二低通滤波电路70，该第一放大电路80短接金属探测器100的发射线圈101而连接金属探测器100的探测电路102，该第二放大电路90短接金属探测器100的接收线圈103而连接金属探测器100的探测电路102。
[0025]在本实施例中，该DAC控制电路30具有型号为AD5660的DAC器件，通过AD5660的DAC器件控制第二 DDS控制电路50的满量程控制输入端的电压来实现控制第二 DDS控制电路50输出信号的幅度的变化。
[0026]该第一 DDS控制电路40和第二 DDS控制电路50均具有型号为AD9834的DDS器件，其分别用于产生仿真的发射信号和接收信号。
[0027]该第一低通滤波电路60和第二低通滤波电路70的主要作用是滤除DDS控制电路输出的信号中的谐波。
[0028]该第一放大电路80和第二放大电路90的主要作用是将经过滤波后的输出信号进行一定倍数的放大。
[0029]本实用新型的设计重点在于:通过配合利用各个电路，实现了一个信号发生器，数字合成来模拟一些常见金属在金属探测器中的响应信号，在金属探测器的生产过程中，直接将本实用新型产生的信号输入至金属探测器的探测电路中，就可以进调试和校准，而不必连接探测线圈并通过探测线圈产生真实的物理信号来进行调试，从而摆脱了受环境电磁干扰的限制，降低了生产难度，大大提高了生产效率。而且本装置的信号频率可调，能模拟多种常见金属的响应信号，可以用于辅助不同型号的金属探测器的生产，并且在对金属的导电性和导磁性的研宄上也非常具有参考价值。
[0030]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【权利要求】
1.一种金属探测器调校装置，其特征在于:包括有MCU、显示控制电路、DAC控制电路、第一 DDS控制电路、第二 DDS控制电路、第一低通滤波电路、第二低通滤波电路、第一放大电路和第二放大电路；该显示控制电路、DAC控制电路、第一 DDS控制电路和第二 DDS控制电路均与MCU连接，该DAC控制电路连接第二 DDS控制电路，该第一低通滤波电路和第二低通滤波电路分别对应连接第一 DDS控制电路和第二 DDS控制电路，该第一放大电路和第二放大电路分别对应连接第一低通滤波电路和第二低通滤波电路，该第一放大电路短接金属探测器的发射线圈而连接金属探测器的探测电路，该第二放大电路短接金属探测器的接收线圈而连接金属探测器的探测电路。2.根据权利要求1所述的金属探测器调校装置，其特征在于:所述MCU为型号是STM32F030C8T6 的控制器。3.根据权利要求1所述的金属探测器调校装置，其特征在于:所述DAC控制电路具有型号为AD5660的DAC器件。4.根据权利要求1所述的金属探测器调校装置，其特征在于:所述第一DDS控制电路和第二 DDS控制电路均具有型号为AD9834的DDS器件。
【文档编号】G01V3-10GK204269851SQ201420695072
【发明者】向志文, 杨晓东, 吴跃程, 罗斌, 杜绪明, 杨运勋, 徐培彬, 杜明辉, 袁仁坤, 范立斌, 范振粤, 吴土乾, 劳景南 [申请人]东莞市南星电子有限公司