技术编号：2549306
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种，属于阵列电路检测领域。其中，该阵列基板检测头用于对阵列基板上的多个阵列电路进行检测，所述阵列基板检测头包括检测头本体；设置在所述检测头本体上、用于向所述阵列电路的信号端点加载测试信号的探针组件；设置在所述检测头本体上、用于检测所述阵列电路传递的测试信号的检测电路。本发明的技术方案能够对基板上的阵列电路进行全方位的测试，并且避免了检测头与探针框架发生碰撞造成的损失。专利说明 [0001]本发明涉及阵列电路检测领域，特别是指一种。 ...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。