技术编号:25530432
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及能够使pin(p型半导体-本征型半导体-n型半导体)二极管的泄漏电流最小化的用于数字x射线探测器装置的薄膜晶体管阵列基板和数字x射线探测器装置及其制造方法。背景技术因为x射线具有短波长,所以x射线可以容易地穿过对象。x射线的透射比取决于对象的内部密度。因此,可以通过检测透过对象的x射线的量来观察对象的内部结构。用于医学领域的基于x射线的检查方法之一是胶片打印方案。然而,在胶片打印方案中,为了检查结果,拍摄图像,然后打印胶片。因此,检查结果花费长时间。特别地,在胶片打印方案中,在储存和保...
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