技术编号：2648258
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般相关于集成电路，尤其是液晶显示器(LCD)来源驱动器的内建自测试 (built-in self-test, BIST)电路。背景技术一 IXD来源驱动器可以有很多通道(例如，256-1024)。该通道(channel)至通道偏移电压的变化预计仅限于特定电压值，如，小于+/_5mV。该通道至通道偏移电压变化系使用不同测试方法测试。LCD来源驱动器的传统测试器具有的不足之处包括当测试通道或使用较准确的模拟到数字转换器(ADC)时有较高的测试成本。使用...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。