技术编号：29274170
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种高精度半导体测试机。背景技术.目前半导体元件的生产环节中，半导体元体测试是重要的环节，半导体元件根据测试的结果进行分类。根据半导体引脚的方向不同，目前半导体元件的测试有分为底部测试、顶部测试与夹侧测试。.现有半导体测试因为追求高精度和测试结果对环境要求较高，测试完成后不能快速将半导体传输出去，影响测试效率。.针对上述中的相关技术，发明人认为存在有测试效率低的缺陷。实用新型内容.为了解决上述背景技术中提出的问题，本申请提供一种高精度半导体测试...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。