一种高精度半导体测试机的制作方法

1.本技术涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种高精度半导体测试机。


背景技术：

2.目前半导体元件的生产环节中，半导体元体测试是重要的环节，半导体元件根据测试的结果进行分类。根据半导体引脚的方向不同，目前半导体元件的测试有分为底部测试、顶部测试与夹侧测试。
3.现有半导体测试因为追求高精度和测试结果对环境要求较高，测试完成后不能快速将半导体传输出去，影响测试效率。
4.针对上述中的相关技术，发明人认为存在有测试效率低的缺陷。


技术实现要素：

5.为了解决上述背景技术中提出的问题，本技术提供一种高精度半导体测试机。
6.本技术提供的一种高精度半导体测试机采用如下的技术方案：
7.一种高精度半导体测试机，包括控制箱，所述控制箱的侧壁设置有测试显示屏与多个控制按钮，所述控制箱的上表面设置有支撑板与两个支撑柱，所述支撑板与两个支撑柱的顶端设置有顶板，所述支撑板与一个支撑柱间设置有侧板，所述侧板内设置有温湿度检测机构，所述支撑板与另一个支撑柱的侧壁均设置有连接板，两个所述连接板间设置有散热装置，所述支撑板的侧壁设置有高精度移动机构，所述高精度移动机构的底端设置有测试机构，所述控制箱的上表面对称设置有限位板，所述控制箱在两个限位板间设置有传输机构，两个所述限位板的顶端滑动设置有放置机构，所述放置机构的下表面设置有齿板，两个所述限位板的上表面设置有挡板，所述控制箱的上表面设置有移动电机，所述移动电机的输出端设置有齿轮，所述齿板与齿轮啮合，所述控制箱的下表面对称设置有多个移动轮，所述控制箱的两端侧壁对称设置有固定板，两个所述固定板的下表面均设置有升降装置，两个所述升降装置的底端设置有稳定板。
8.通过采用上述技术方案，高精度移动机构高精度的移动测试机构对半导体元件进行测试，移动电机控制放置机构移动，将半导体元件通过挡板推入传输机构，传输机构将测试完的半导体元件传输出去方便下一个半导体的测试，提高测试效率，移动轮用来移动测试机，升降装置下降带动稳定板下降来稳定测试机位置，温湿度检测机构来检测半导体测试的环境。
9.优选的，所述控制箱的侧壁设置有检修门。
10.通过采用上述技术方案，检修门方便对控制箱进行检修。
11.优选的，所述温湿度检测机构的侧壁设置有警报器与温湿度显示屏。
12.通过采用上述技术方案，温湿度显示屏显示环境数据，警报器在环境不正常时进行警报。
13.优选的，所述高精度移动机构与顶板间设置有加固杆。
14.通过采用上述技术方案，加固杆加固高精度移动机构。
15.优选的，所述散热装置包括散热壳体，所述散热壳体内设置有散热风扇，所述散热壳体的两端均设置有防尘安全网。
16.通过采用上述技术方案，散热风扇在环境不适合检测使进行散热除湿。
17.优选的，两个所述限位板的内壁均开设有滑槽，所述放置机构的两端滑动设置于两个滑槽内。
18.通过采用上述技术方案，滑槽限制了放置机构的滑动轨迹。
19.优选的，所述控制箱的上表面设置有固定底座，所述移动电机设置于固定底座内。
20.通过采用上述技术方案，固定底座固定了移动电机的位置。
21.综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：
22.1.本实用新型通过高精度移动机构高精度的移动测试机构对半导体元件进行测试，移动电机控制齿轮转动带动齿板滑动，齿板滑动带动放置机构移动，将半导体元件通过挡板推入传输机构，传输机构将测试完的半导体元件传输出去方便下一个半导体的测试，提高测试效率；
23.2.本实用新型通过湿度检测机构来检测半导体测试的环境，并通过温湿度显示屏进行显示，警报器用来在环境异常进行及时警报，散热风扇在环境不适合测试时对测试机进行散热，保证了测试环境的正常；
24.3.本实用新型通过移动轮用来移动测试机，在测试机需要固定时，升降装置下降带动稳定板下降来稳定测试机位置，保证测试机的稳定性。
附图说明
25.图1为本实用新型结构示意图；
26.图2为本实用新型控制箱结构示意图；
27.图3为本实用新型放置机构结构示意图；
28.图4为本实用新型散热装置结构示意图；
29.附图标记说明：1、控制箱；11、测试显示屏；12、控制按钮；13、检修门；2、温湿度检测机构；21、警报器；22、温湿度显示屏；3、支撑板；31、顶板；32、侧板；33、支撑柱；4、高精度移动机构；41、加固杆；42、测试机构；5、散热装置；51、连接板；52、散热壳体；53、散热风扇；54、防尘安全网；6、限位板；61、挡板；62、放置机构；63、齿板；64、齿轮；65、移动电机；66、固定底座；67、滑槽；7、,移动轮；8、固定板；81、升降装置；82、稳定板；9、传输机构。
具体实施方式
30.以下结合附图1-4对本技术作进一步详细说明。
31.本技术实施例公开一种高精度半导体测试机。参照图1-4，一种高精度半导体测试机，包括控制箱1，控制箱1的侧壁设置有测试显示屏11与多个控制按钮12，控制箱1对测试机构42的数据通过测试显示屏11显示出来，多个控制按钮12进行控制，控制箱1的上表面设置有支撑板3与两个支撑柱33，支撑板3与两个支撑柱33的顶端设置有顶板31，支撑板3与一个支撑柱33间设置有侧板32，侧板32内设置有温湿度检测机构2，温湿度检测机构2用来检测半导体测试的环境，支撑板3与另一个支撑柱33的侧壁均设置有连接板51，两个连接板51
间设置有散热装置5，散热装置5用来调节测试环境，支撑板3的侧壁设置有高精度移动机构4，高精度移动机构4的底端设置有测试机构42，高精度移动机构4高精度的移动测试机构42对半导体元件进行测试，控制箱1的上表面对称设置有限位板6，控制箱1在两个限位板6间设置有传输机构9，传输机构9用来将测试完的半导体元件传输出去方便下一个半导体的测试，提高测试效率，两个限位板6的顶端滑动设置有放置机构62，放置机构62用来放置半导体元件，放置机构62的下表面设置有齿板63，两个限位板6的上表面设置有挡板61，控制箱1的上表面设置有移动电机65，移动电机65的输出端设置有齿轮64，齿板63与齿轮64啮合，移动电机65控制齿轮64转动带动齿板63滑动使放置机构62移动，将半导体元件通过挡板61推入传输机构9，控制箱1的下表面对称设置有多个移动轮7，移动轮7用来移动测试机，控制箱1的两端侧壁对称设置有固定板8，两个固定板8的下表面均设置有升降装置81，两个升降装置81的底端设置有稳定板82，升降装置81下降带动稳定板82下降来稳定测试机位置。
32.参照图2，控制箱1的侧壁设置有检修门13。
33.参照图1，温湿度检测机构2的侧壁设置有警报器21与温湿度显示屏22，警报器21用来在环境异常进行及时警报。
34.参照图1，高精度移动机构4与顶板31间设置有加固杆41，加固杆41用来稳定高精度移动机构4。
35.参照图4，散热装置5包括散热壳体52，散热壳体52内设置有散热风扇53，散热壳体52的两端均设置有防尘安全网54，散热风扇53在环境不适合测试时对测试机进行散热。
36.参照图3，限位板6的内壁均开设有滑槽67，放置机构62的两端滑动设置于两个滑槽67内，滑槽67用来限制放置机构62的位置。
37.参照图3，控制箱1的上表面设置有固定底座66，移动电机65设置于固定底座66内，固定底座66用来固定移动电机65。
38.本技术实施例一种高精度半导体测试机的实施原理为：本实用新型使用时，首先将需要测试的半导体元件放置在放置机构62上，高精度移动机构4高精度的移动测试机构42对半导体元件进行测试，测试完成后，移动电机65控制齿轮64转动带动齿板63滑动，齿板63滑动带动放置机构62移动，将半导体元件通过挡板61推入传输机构9，传输机构9将测试完的半导体元件传输出去方便下一个半导体的测试，提高测试效率，移动轮7用来移动测试机，在测试机需要固定时，升降装置81下降带动稳定板82下降来稳定测试机位置，温湿度检测机构2来检测半导体测试的环境，并通过温湿度显示屏22进行显示，警报器21用来在环境异常进行及时警报，散热风扇53在环境不适合测试时对测试机进行散热。
39.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。