技术特征：
1.一种高精度半导体测试机，包括控制箱(1)，其特征在于：所述控制箱(1)的侧壁设置有测试显示屏(11)与多个控制按钮(12)，所述控制箱(1)的上表面设置有支撑板(3)与两个支撑柱(33)，所述支撑板(3)与两个支撑柱(33)的顶端设置有顶板(31)，所述支撑板(3)与一个支撑柱(33)间设置有侧板(32)，所述侧板(32)内设置有温湿度检测机构(2)，所述支撑板(3)与另一个支撑柱(33)的侧壁均设置有连接板(51)，两个所述连接板(51)间设置有散热装置(5)，所述支撑板(3)的侧壁设置有高精度移动机构(4)，所述高精度移动机构(4)的底端设置有测试机构(42)，所述控制箱(1)的上表面对称设置有限位板(6)，所述控制箱(1)在两个限位板(6)间设置有传输机构(9)，两个所述限位板(6)的顶端滑动设置有放置机构(62)，所述放置机构(62)的下表面设置有齿板(63)，两个所述限位板(6)的上表面设置有挡板(61)，所述控制箱(1)的上表面设置有移动电机(65)，所述移动电机(65)的输出端设置有齿轮(64)，所述齿板(63)与齿轮(64)啮合，所述控制箱(1)的下表面对称设置有多个移动轮(7)，所述控制箱(1)的两端侧壁对称设置有固定板(8)，两个所述固定板(8)的下表面均设置有升降装置(81)，两个所述升降装置(81)的底端设置有稳定板(82)。2.根据权利要求1所述的一种高精度半导体测试机，其特征在于：所述控制箱(1)的侧壁设置有检修门(13)。3.根据权利要求1所述的一种高精度半导体测试机，其特征在于：所述温湿度检测机构(2)的侧壁设置有警报器(21)与温湿度显示屏(22)。4.根据权利要求1所述的一种高精度半导体测试机，其特征在于：所述高精度移动机构(4)与顶板(31)间设置有加固杆(41)。5.根据权利要求1所述的一种高精度半导体测试机，其特征在于：所述散热装置(5)包括散热壳体(52)，所述散热壳体(52)内设置有散热风扇(53)，所述散热壳体(52)的两端均设置有防尘安全网(54)。6.根据权利要求1所述的一种高精度半导体测试机，其特征在于：两个所述限位板(6)的内壁均开设有滑槽(67)，所述放置机构(62)的两端滑动设置于两个滑槽(67)内。7.根据权利要求1所述的一种高精度半导体测试机，其特征在于：所述控制箱(1)的上表面设置有固定底座(66)，所述移动电机(65)设置于固定底座(66)内。
技术总结
本申请涉及一种高精度半导体测试机，其包括控制箱，控制箱的上表面设置有支撑板与两个支撑柱，支撑板与两个支撑柱的顶端设置有顶板，支撑板与一个支撑柱间设置有侧板，侧板内设置有温湿度检测机构，支撑板与另一个支撑柱的侧壁间设置有散热装置，支撑板的侧壁设置有高精度移动机构，高精度移动机构的底端设置有测试机构，控制箱的上表面对称设置有限位板与传输机构，两个限位板的顶端滑动设置有放置机构，放置机构的下表面设置有齿板，两个限位板的上表面设置有挡板，控制箱的上表面设置有移动电机，移动电机的输出端设置有齿轮，控制箱的下表面对称设置有多个移动轮，本申请具有提高半导体测试效率的效果。高半导体测试效率的效果。高半导体测试效率的效果。
技术研发人员：陆鹏 王硕秋 卞杰锋
受保护的技术使用者：江苏威迈智能科技有限公司
技术研发日：2021.08.10
技术公布日：2022/3/15