技术编号:31725821
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于叠层衍射成像领域,更具体地,涉及基于角度自校准的反射式叠层衍射成像方法、装置和系统。背景技术.叠层衍射成像是一种无需透镜的计算成像技术,其利用实空间的重叠扫描与频空间的衍射光强作为约束,利用叠层衍射算法迭代重构出样品的幅值与相位信息,在x射线和电子束高分辨成像领域产生了较大的影响。相比于传统的透射式叠层衍射成像系统,反射式光路系统可以适用于不透明反射式样品,在极紫外波段具有应用前景。.反射式叠层衍射成像系统原理与透射式系统基本相同,但在反射式光路中,样品与光轴倾斜放置,平行平面...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。