技术编号:32285239
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及薄膜测厚仪技术领域,具体为一种光学薄膜测厚仪。背景技术.光学薄膜的应用始于世纪年代,由薄的分层介质构成的,通过界面传播光束的一类光学介质材料。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器,主要的光学薄膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用,获得了科学技术工作者的日益重视。例如采用减反射膜后可使复杂的光学镜头的光通量损失成十倍地减小;采用高反射比的反射镜可使激光器的输出功率成倍提高;利用光...
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