技术编号：32416978
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种时钟树电路和基于时钟树电路的信号传输方法。背景技术.作为检测电路缺陷的一种方法，扫描链(scan)测试模式在大规模集成电路和汽车电子中是必选的。在带有微控制单元(microcontroller unit，mcu)和外设的系统中，功能模式一般具有丰富的时钟来源，常见的有：外灌管脚时钟、高速晶振时钟(hfxo)、利用hfxo产生的锁相环时钟(pll)、高速内置时钟(hfrc)、低速内置时钟(lfrc)和低速晶振时钟(lfxo)。不同于功能模式，扫描链测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。