技术编号：33122619
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于微纳米颗粒表面电荷密度测定方法的技术领域，特别涉及利用动态光散射技术进行微纳米颗粒表面电荷密度测定的技术领域。背景技术.表面电荷密度是纳微米颗粒的界面性质中非常重要的参数，它决定了纳微米颗粒表面上的电场强度，从而影响了纳微米颗粒之间的相互作用。.然而到目前为止，现有技术中还没任何仪器可以直接测定这一重要参数。现有技术中对纳微米颗粒表面电荷密度的获得均是通过颗粒在气相介质中测定的外表面积与液相介质下测定的表面电荷数量进行估算实现的。由于测定环境不一致，这种估算方法得到的表面电荷密...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。