技术编号:33417474
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及芯片测试技术领域,特别涉及一种时钟信号供应电路、芯片测试电路和芯片测试架。背景技术.芯片在封装完成后要进行各种测试验证(例如,老化测试),为了较高的测试效率,通常会制作相应的测试架进行芯片测试验证,测试架上设置多个测试座用于放置多颗芯片,以对多颗芯片同时进行测试验证。芯片在进行测试时,需要测试架为其提供时钟信号;目前的测试架给各个测试座提供时钟信号的方案,是通过给每个测试座都配置一个时钟源模块。这种测试架存在以下不足:需要采用多个时钟源模块,成本高,并且由于各个时钟源模块的时...
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