技术编号:3361511
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光谱分析领域,具体地说是一种用于X射线荧光光谱分析的特效熔剂。2、技术背景由于特征X射线产生于内层电子能级之间的跃迁,所以反映了该原子的结构特性与元素种类有关。1993年莫斯莱(H.G.Moseley)研究了特征X射线波长λ与元素的原子序数Z的关系。建立了数学表达式λ=k(Z-s)-2式中k、s为常数。荧光X射线的本质就是特征X射线,因此莫斯莱定律同样适用于荧光X射线。对于莫斯莱定律中的k、s常数,不同类型的谱线具有不同值。每一种元素的特征X射线...
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