技术编号:34146669
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型属于导光光学薄膜的waviness检测相关技术领域,具体涉及一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备。背景技术.在导光光学薄膜的使用、加工过程中,waviness(膜片微观平整度)对于导光光学薄膜的生产质量影响很大。过高的waviness会影响产品的贴合,进而十分影响成品的画面。所以要想解决waviness的检测问题,必须使用特殊的方法或设备来观察产品表面,判断产品的waviness是否严重。而目前国内对于waviness没有统一的测量手段,也没有统一的标准,较为常用的方...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。