一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备的制作方法

本技术属于导光光学薄膜的waviness检测相关，具体涉及一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备。

背景技术：

1、在导光光学薄膜的使用、加工过程中，waviness(膜片微观平整度)对于导光光学薄膜的生产质量影响很大。过高的waviness会影响产品的贴合，进而十分影响成品的画面。所以要想解决waviness的检测问题，必须使用特殊的方法或设备来观察产品表面，判断产品的waviness是否严重。而目前国内对于waviness没有统一的测量手段，也没有统一的标准，较为常用的方法为暗室测量法，而现有的暗室测量方法虽然能测量出一个数值，但其精确性较低，且易受到脏污和杂质的影响，对waviness的波浪高度敏感度也很高，超过一定数值，最后的测量结果会有很大的误差。

2、随着时代的发展，较为局限的暗室测量法已经不适合waviness的精确检测。如申请号为202110499062.1提供了一种表面waviness智能检测方法、系统、存储介质和终端设备，该方法包括系统标定及透视校正、产品检测。产品检测包括产品图像采集、解相位、三维重建和曲率计算、以及测量项获取，根据不同的测量项取产品对应区域的曲率值进行运算，获得一个与测量项相对应的测量值，当测量值大于该测量项设定的阈值时，判定该项ng。本发明的waviness量检测方法和系统，方法实现了系统的标定以及倾斜图像的校正，尤其针对镜面或镜面类3c产品的表面waviness量检测效果更佳，提高了检测的准确性；系统结构简单，可适应不同规格镜面/类镜面3c产品的表面waviness的精确量检测。

3、上述测量方法是通过软件系统的结合实现对表面waviness智能检测，但是在实际测量时会受到拍摄方法与画面影响，测量过程中也会因waviness的高度过高而导致测出的数值不精确，其次用检验灯查看导光光学薄膜表面，无法确切地看清楚是否有waviness或者加工纹路，还需要从特定的视角才能看到一些特征，且无法判断是否在可接受范围内，进而影响对waviness的测量精度。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，以解决上述背景技术中提出的易受拍摄方法与画面影响、检验灯无法确切地看清楚是否有waviness或者加工纹路的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，包括主体部件、压盖部件、灯源部件以及透镜部件，所述主体部件包括直筒段以及与直筒段一体连接的锥形筒段，所述直筒段的一端敞开另一端封闭，且封闭处开设有一圆孔，所述透镜部件装设于直筒段敞开的一端并通过压盖部件螺纹固定，所述灯源部件螺纹固定于锥形筒段的末端且与圆孔对齐设置。

3、优选的，所述压盖部件包括端盖，所述端盖套设于直筒段的端部外侧且与直筒段螺纹连接，所述端盖的表面设有防滑纹。

4、优选的，所述透镜部件具体为凸透镜。

5、优选的，所述直筒段敞开端内侧开设有用于容置透镜部件的限位槽。

6、优选的，所述端盖的内侧壁上固定设置有用于与透镜部件相抵触的硅胶垫圈。

7、优选的，所述直筒段靠近灯源部件的一端内侧固定有封板，所述封板的中心位置开设有小孔。

8、优选的，所述灯源部件包括灯管以及固定装设于灯管中心处的灯泡，所述灯管与锥形筒段螺纹连接。

9、优选的，所述直筒段与锥形筒段的内壁上均涂覆有一层吸光涂层。

10、与现有技术相比，本实用新型提供了一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，具备以下有益效果：

11、在本仪器设计出来之前，导光光学薄膜waviness甚至其他可透的膜片无法精确地测出产品是否有waviness，以前的仪器只是拍张照后处理一下表面然后用软件测量数据，拍照以及测量数据的过程中很容易产生误差，且测量出来的数据与目视的情况经常不一致，导致没有一个统一的结论，而利用本设备可以一目了然地看见产品表面是否有waviness，且检测设备体型小易携带，使用方便，可以适用于大部分场所，可以在生产现场装备一个，及时查看产品的表面情况，对有效指导产品改善有了更可靠的支持。

技术特征：

1.一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：包括主体部件(1)、压盖部件(2)、灯源部件(3)以及透镜部件(4)，所述主体部件(1)包括直筒段(11)以及与直筒段(11)一体连接的锥形筒段(12)，所述直筒段(11)的一端敞开另一端封闭，且封闭处开设有一圆孔，所述透镜部件(4)装设于直筒段(11)敞开的一端并通过压盖部件(2)螺纹固定，所述灯源部件(3)螺纹固定于锥形筒段(12)的末端且与圆孔对齐设置。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述压盖部件(2)包括端盖(21)，所述端盖(21)套设于直筒段(11)的端部外侧且与直筒段(11)螺纹连接，所述端盖(21)的表面设有防滑纹(22)。

3.根据权利要求1所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述透镜部件(4)具体为凸透镜。

4.根据权利要求1所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述直筒段(11)敞开端内侧开设有用于容置透镜部件(4)的限位槽(13)。

5.根据权利要求2所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述端盖(21)的内侧壁上固定设置有用于与透镜部件(4)相抵触的硅胶垫圈(23)。

6.根据权利要求1所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述直筒段(11)靠近灯源部件(3)的一端内侧固定有封板(14)，所述封板(14)的中心位置开设有小孔(15)。

7.根据权利要求1所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述灯源部件(3)包括灯管(31)以及固定装设于灯管(31)中心处的灯泡(32)，所述灯管(31)与锥形筒段(12)螺纹连接。

8.根据权利要求1所述的一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，其特征在于：所述直筒段(11)与锥形筒段(12)的内壁上均涂覆有一层吸光涂层。

技术总结
本技术涉及导光光学薄膜的waviness检测技术领域，提出了一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，包括主体部件、压盖部件、灯源部件以及透镜部件，所述主体部件包括直筒段以及与直筒段一体连接的锥形筒段，所述直筒段的一端敞开另一端封闭，且封闭处开设有一圆孔，所述透镜部件装设于直筒段敞开的一端并通过压盖部件螺纹固定，所述灯源部件螺纹固定于锥形筒段的末端且与圆孔对齐设置；本设备可以一目了然地看见产品表面是否有waviness，且检测设备体型小易携带，使用方便，可以适用于大部分场所，可以在生产现场装备一个，及时查看产品的表面情况，对有效指导产品改善有了更可靠的支持。

技术研发人员：周鹏,沈渊,劳永杰,曹建,孙亮,胡耀忠
受保护的技术使用者：凯鑫森（上海）功能性薄膜产业股份有限公司
技术研发日：20221228
技术公布日：2024/1/12