技术编号:34408401
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及芯片检测技术领域,尤其涉及一种测试装置和测试系统。背景技术.由于nand型闪存在断电后数据不会消失,可以作为外部存储使用,并且其具有容量大,改写速度快等有点,因此在业界中受到广泛的应用,nand从芯片供应商出货至各销售渠道,等级差异很大,另外以次充好的现象比比皆是,因此在使用nand制备芯片之前需要对nand进行检测,也称nand特性分析,主要是测试nand的再高低温等特殊环境下,nand的数据的保存能力、数据保存寿命以及数据的读写速度等特性,用来判定nand适合做什么类型的芯片...
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