技术编号:34442542
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。输出测试结果的存储器件及测试其的方法.相关申请的交叉引用.本申请基于于年月日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请no.--和于年月日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请no.--并且要求它们的优先权,上述韩国专利申请中的每个申请的公开内容通过引用整体地并入本文。技术领域.发明构思的各种示例实施例涉及半导体器件,并且更具体地,涉及存储器件、包括该存储器件的系统、测试存储器件的方法和/或一种非暂时性计算机可读介质,该非暂...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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