技术编号：34899623
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及一种测试方法，特别涉及一种扫描链的设计与电路测试方法。背景技术.在使用扫描链的电路测试中，扫描链中的测试点设置与测试的效能有关。若在扫描链中设置了效率不佳的测试点，则浪费了电路面积。若测试点的数量不足，则测试覆盖率无法达到所需的标准。因此，如何设计扫描链已成为本技术领域关注的问题之一。发明内容.本发明提供一种扫描链设计方法，包括：依据目标电路的门级网表得到目标电路的多个测试点；确定第一数值m与第二数值n，其中m与n为不大于这些测试点的数量的正整数，且n不等于m；依据优先条件，在...
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