扫描链设计与电路测试方法与流程

本发明涉及一种测试方法，特别涉及一种扫描链的设计与电路测试方法。

背景技术：

1、在使用扫描链的电路测试中，扫描链中的测试点设置与测试的效能有关。若在扫描链中设置了效率不佳的测试点，则浪费了电路面积。若测试点的数量不足，则测试覆盖率无法达到所需的标准。因此，如何设计扫描链已成为本技术领域关注的问题之一。

技术实现思路

1、本发明提供一种扫描链设计方法，包括：依据目标电路的门级网表得到目标电路的多个测试点；确定第一数值m与第二数值n，其中m与n为不大于这些测试点的数量的正整数，且n不等于m；依据优先条件，在这些测试点中取出m个测试点作为第一组测试点，以及在这些测试点中取出n个测试点作为第二组测试点；依据第一组测试点得到第一测试覆盖率以及第一测试模式数，以及依据第二组测试点得到第二测试覆盖率以及第二测试模式数；依据第一测试覆盖率以及第二测试覆盖率得到预测测试覆盖率曲线；依据预测测试覆盖率曲线、第一测试模式数以及第二测试模式数确定最佳化数量o，其中o为不大于这些测试点的数量的正整数；及依据优先条件以及最佳化数量o来在这些测试点中选取o个测试点，并据以配置门级网表的扫描链。

2、本发明还提供一种电路测试方法，包括：依据目标电路的门级网表确定目标电路的x个测试点，其中x为正整数；依据x个测试点优先条件取得排序；取得x个测试点对应的预测测试覆盖率曲线；依据预测测试覆盖率曲线确定最佳化数量o个测试点，其中预测测试覆盖率曲线中对应最佳化数量o个测试点的斜率不大于阈值，且o为不大于x的正整数；将排序中的第一个至该第o个测试点插入至门级网表的初始扫描链中以产生扫描链；及依据扫描链对目标电路进行测试。

3、本发明的扫描链设计方法与电路测试方法对目标电路中的所有测试点进行排序，依照排序的优先条件取得一对应的测试覆盖率曲线，接着再由测试覆盖率曲线中确定最佳测试点数量以设置扫描链。本发明取得的最佳测试点数量使得在使用扫描链测试时具有足够的测试覆盖率、合理的电路面积与测试时间。

技术特征：

1.一种扫描链设计方法，包括：

2.根据权利要求1所述的扫描链设计方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的扫描链设计方法，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求1所述的扫描链设计方法，其特征在于，所述门级网表对应一初始扫描链，在依据所述优先条件以及所述最佳化数量来在所述多个测试点中选取o个测试点，并据以配置所述门级网表的所述扫描链的步骤中，将所述o个测试点插入所述初始扫描链以配置所述扫描链。

5.根据权利要求4所述的扫描链设计方法，其特征在于，依据所述第一测试覆盖率以及所述第二测试覆盖率得到所述预测测试覆盖率曲线的步骤包括：

6.根据权利要求5所述的扫描链设计方法，其特征在于，依据所述第一测试覆盖率以及所述第二测试覆盖率得到所述预测测试覆盖率曲线的步骤还包括：

7.一种电路测试方法，包括：

8.根据权利要求7所述的电路测试方法，其特征在于，取得所述x个测试点对应的所述预测测试覆盖率曲线的步骤包括：

9.根据权利要求8所述的电路测试方法，其特征在于，取得所述x个测试点对应的所述预测测试覆盖率曲线的步骤还包括：

10.根据权利要求9所述的电路测试方法，其特征在于，依据所述第一测试覆盖率与所述第二测试覆盖率拟合所述预测测试覆盖率曲线的步骤包括：

技术总结
本发明提供一种扫描链设计方法，包括：依据门级网表得到多个测试点；确定正整数M与N，其中M与N不大于这些测试点的数量X；依据优先条件，在这些测试点中取出M、N个分别作为第一、第二组测试点；依据第一组测试点得到第一测试覆盖率及第一测试模式数，及依据第二组测试点得到第二测试覆盖率及第二测试模式数；依据第一及第二测试覆盖率得到预测测试覆盖率曲线；依据预测测试覆盖率曲线、第一及第二测试模式数确定最佳化数量O，其中O不大于数量X；及依据优先条件及最佳化数量O来在这些测试点中选取O个，并通过这种方式配置扫描链。

技术研发人员：王绣文,杨玉嬿,陈莹晏
受保护的技术使用者：瑞昱半导体股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13