技术编号:35270213
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于二极管和三极管生产设备技术领域,具体地说是一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台。背景技术.现有的半导体市场对于三极管及二极管产品有着大量的需求,但由于三极管及二极管生产设备以及工艺流程等条件的限制,三极管及二极管生产的产能还有巨大的提升空间。三极管及二极管的生产过程中需要进行绝缘检测、激光打标、外观检测等生产工艺步骤。现有三极管及二极管生产过程中,因工件需要进行较长时间的绝缘检测,而绝缘检测前没有进行工件的外观检测。因此常有外观不合格品在此步骤占用时间,导致生产效率低下。发明...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。