技术编号：36160762
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及电子元器件检测技术领域，具体为一种电子元器件检测用可调节式测试台。背景技术.电子元器件包括但不仅限于芯片，从而在芯片生产制造过程中，各工艺流程环环相扣，技术复杂，材料、环境、工艺参数等因素的微变常导致芯片产生缺陷，影响产品良率，芯片质量检测作为芯片生产线中的关键环节，可以积极地反馈产品质量信息，以便人们及时掌控各生产环节的健康状况。.芯片的检测主要分为物理性检测和电性能检测，物理性检测主要可分为封装前的芯片表面缺陷检测和封装后的封装体缺陷检测，电性能检测是在不同的电压、温度和湿...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。