技术编号：36256466
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。集成电路、数据储存的方法及获得错误校正数据的方法技术领域.本公开技术是关于存储器集成电路(integrated circuit；ic)，且特定言之，是关于减小读取数据的位错误率(bit-error rate；ber)的集成电路、将数据储存于集成电路中的方法以及自存储器中储存于多个位置中的数据获得错误校正数据的方法。背景技术.存储器芯片的位错误率(ber)随着更先进的技术节点变得更高。现有产品使用先进的错误侦测及校正技术，且尝试在不同读取条件下进行读取以恢复损坏的数据。.然而，若存在过多错误...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。