技术编号：36327702
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本揭示涉及一种用于对待测试物体的电性特性进行测试的探针接点。背景技术.为对待测试物体的电性特性进行测试，探针接点可对测试电路板的第一端子与待测试物体的第二端子进行电性连接。.专利文件中已揭示一种探针接点，所述探针接点包括：第一柱塞；第二柱塞及第三柱塞，设置于第一柱塞的两侧且能够移动滑动；第一弹簧，设置于第一柱塞与第二柱塞之间且具有小的直径；以及第二弹簧，设置于第一柱塞与第三柱塞之间且具有容纳第一弹簧的大的直径。.[专利文件]日本专利第号。发明内容技术问题[...
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