本揭示涉及一种用于对待测试物体的电性特性进行测试的探针接点。
背景技术:
1、为对待测试物体的电性特性进行测试,探针接点可对测试电路板的第一端子与待测试物体的第二端子进行电性连接。
2、专利文件1中已揭示一种探针接点,所述探针接点包括:第一柱塞;第二柱塞及第三柱塞,设置于第一柱塞的两侧且能够移动滑动;第一弹簧,设置于第一柱塞与第二柱塞之间且具有小的直径;以及第二弹簧,设置于第一柱塞与第三柱塞之间且具有容纳第一弹簧的大的直径。
3、[专利文件1]日本专利第5629611号。
技术实现思路
1、技术问题
2、由于第一弹簧及第二弹簧分别容许第二柱塞与第三柱塞独立地操作,因此专利文件1中揭示的探针接点具有自适应性地应对测试端子的各种形状的优点,但由于结构复杂而具有增加制造成本的缺点。特别地,具有此种结构的探针接点具有以下问题:很难将探针接点制造得很小以应用于具有精细节距端子的待测试物体。
3、本揭示的一个实施例是提供一种探针接点,所述探针接点具有简单的结构且可制造得很小。
4、技术解决方案
5、根据本揭示的各种实施例,提供一种探针接点。用于在第一端子与第二端子之间进行电性连接的探针接点包括:静止柱塞,包括第一主体及第一突起,所述第一主体具有与第一端子进行接触的第一端,所述第一突起与第一主体的纵向方向横交地突出;多个活动柱塞,包括第二主体及第二突起,所述第二主体具有与第二端子进行接触的第一端及与静止柱塞进行电性接触的第二端,所述第二突起与第二主体的纵向方向横交地突出,且所述多个活动柱塞被设置成在纵向方向上彼此独立地相对滑动;以及弹簧,设置于第一突起与第二突起之间。
6、只有在测试期间受到按压的活动柱塞可滑动移动。
7、所述多个活动柱塞各自可包括第一耦合部,所述第一耦合部的第二端耦合至静止柱塞的第二端且能够相对于静止柱塞的第二端滑动移动,所述静止柱塞可包括第二耦合部,所述第二耦合部设置于所述静止柱塞的第二端且耦合至第一耦合部,第一耦合部及第二耦合部中的一者在其耦合表面上可包括至少一个支撑突起,且第一耦合部及第二耦合部中的另一者可包括支撑凹槽,以将所述至少一个支撑突起可分离地嵌入于所述支撑凹槽中。
8、第二突起可在测试期间对弹簧的端部部分施加在纵向方向上相对于所述弹簧的中心而言不平衡的力,并可在弹簧中引起跃起变形。
9、第二主体的形状可为板状的,且第二突起可在宽度方向上自第二主体的一侧突出。
10、活动柱塞的第二突起可在纵向方向上关于所述弹簧的中心对称地定位。
11、活动柱塞的第二突起可在彼此相反的方向上突出。
12、第二主体的形状可为板状的,第二突起可包括在宽度方向上自所述第二主体的相对的侧突出的一对突起,且所述一对突起可被形成为在纵向方向上具有彼此不同的高度。
13、第二主体的形状可为板状的,且第二突起可在厚度方向上自所述第二主体的一个表面突出。
14、第二突起可包括与弹簧的端部部分进行接触的倾斜表面。
15、静止柱塞的第一主体可包括引导轨,所述多个活动柱塞与所述引导轨啮合,且活动柱塞的第二主体可包括引导凹槽,所述引导凹槽沿纵向方向凹陷且置于所述引导轨上。
16、引导轨可包括沿纵向方向在所述引导轨的相对的侧上延伸且在厚度方向上突出的引导壁。
17、提供一种支撑具有上述配置中的一者的探针接点的测试插座。
18、有利效果
19、本发明的探针接点结构简单,同时通过允许与测试端子接触的一对柱塞在单个弹簧结构中独立操作来自适应地响应测试端子的变化,从而降低了许多制造成本并减小了探头的尺寸。
1.一种用于在第一端子与第二端子之间进行电性连接的探针接点,包括:
2.根据权利要求1所述的探针接点,其中只有在测试期间受到按压的所述活动柱塞滑动移动。
3.根据权利要求1所述的探针接点,其中
4.根据权利要求1所述的探针接点,其中所述第二突起在测试期间对所述弹簧的端部部分施加在纵向方向上相对于所述弹簧的中心而言不平衡的力,并在所述弹簧中引起跃起变形。
5.根据权利要求1所述的探针接点,其中
6.根据权利要求5所述的探针接点,其中所述活动柱塞的所述第二突起在纵向方向上关于所述弹簧的中心对称地定位。
7.根据权利要求1所述的探针接点,其中所述活动柱塞的所述第二突起在彼此相反的方向上突出。
8.根据权利要求1所述的探针接点,其中
9.根据权利要求1所述的探针接点,其中
10.根据权利要求9所述的探针接点,其中所述第二突起包括与所述弹簧的端部部分进行接触的倾斜表面。
11.根据权利要求1所述的探针接点,其中
12.根据权利要求11所述的探针接点,其中所述引导轨包括沿纵向方向在所述引导轨的相对的侧上延伸且在厚度方向上突出的引导壁。
13.一种测试插座,支撑如权利要求1至12中的任一项所述的探针接点。