技术编号:36446580
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及机械手分选机技术领域,尤其涉及一种芯片测试机械手分选机。背景技术.目前对芯片的测试大多数都可以通过自动化测试设备来进行,但也有少部分芯片因为需要进行高温、低温和常温测试,而无法直接导入到自动化测试设备中。.现有的对这部分芯片进行测试的方式是利用表面接触式的加热源来对芯片进行加热,然后人工手动地对芯片进行点测,但表面接触式加热只能使得芯片与加热源接触的一面达到测试温度,并不能保证整个芯片的温度都达到测试温度,并且每次手动测试的操作存在差异,两者都会影响芯片的测试结果,导致测试...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。