技术编号:36715725
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及芯片测试,具体地涉及一种微处理芯片及代码下载方法。背景技术、随着近年来片上系统(system on chip,soc)的广泛应用,解决soc芯片的可测试性问题,已成为人们关注和研究的热点。芯片在生产过程中主要有两次测试:晶圆测试(chip probing,cp)和最终测试(final test,ft)。其中ft测试是对封装后的芯片进行测试,一般要求更加严格,要尽可能检测出有故障的芯片。相关技术中,一般通过联合测试工作组(joint test action group,jtag)向芯片...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。