技术编号:37126531
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及半导体集成电路,尤其涉及一种幅值放大并校准组件及方法。背景技术、半导体集成电路测试机的任意波形发生器模块,幅值有限,无法应对模数转换芯片测试特定管脚更大电压幅值范围线性度的情况。、在半导体自动测试技术中,测试效率和精度至关重要。幅值放大模块将一个输入源扇出为四路,提升测试效率。但此模块也会引入增益误差以及偏置误差。这部分会对供给芯片测试的波形直流精度造成影响,需要进行校准。、基于现有技术中无法对信号源放大后的信号波形进行校准,尚未提出有效的解决方案。、需要说明的是,在上述背景技...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。