技术编号:37158877
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及功耗测试,尤其涉及一种功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质。背景技术、随着电子设备越来越广泛,用户对电子设备的性能要求也越来越高。通常地,电子设备上会安装不同类型的电子器件(可简称为器件),在运行这些电子器件时会产生功耗(如运行电子器件时所消耗的电量),从而会影响电子设备的性能。因此,对电子设备上安装的电子器件进行功耗测试显得尤为重要。、相关技术中,在对多个待测试器件进行功耗测试时,需要针对每个待测试器件设置功耗测试电路,进而基于各待测试器件的功耗测试电路,来对各待测试器...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。