功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质与流程

本技术涉及功耗测试，尤其涉及一种功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、随着电子设备越来越广泛，用户对电子设备的性能要求也越来越高。通常地，电子设备上会安装不同类型的电子器件（可简称为器件），在运行这些电子器件时会产生功耗（如运行电子器件时所消耗的电量），从而会影响电子设备的性能。因此，对电子设备上安装的电子器件进行功耗测试显得尤为重要。

2、相关技术中，在对多个待测试器件进行功耗测试时，需要针对每个待测试器件设置功耗测试电路，进而基于各待测试器件的功耗测试电路，来对各待测试器件进行功耗测试。

3、然而，上述技术方案中，很容易造成电路冗余，耗费了较多的电路成本。

技术实现思路

1、本技术提供了一种功耗测试电路、功耗测试方法、电子设备及存储介质，用于提供一种针对多个电子器件的功耗测试方案，以减少电路冗余，从而节省电路成本。

2、为达到上述目的，本技术采用如下技术方案：

3、第一方面，提供了一种功耗测试电路，包括多路复用器、运算放大器、模数转换器和处理器。

4、其中，多路复用器包括一组输出端和多组输入端，每组输入端用于输入一个待测试器件的采样信号。多路复用器用于将该多组输入端中的一组输入端与输出端导通。如此，通过在功耗测试电路中部署多路复用器，由于多路复用器提供有多组输入端，通过多组输入端能够实现多个待测试器件的轮询检测，能够减少电路冗余，有利于节省电路成本。

5、多路复用器的输出端连接运算放大器的输入端，运算放大器用于对多路复用器输出的信号进行放大处理。如此，通过在功耗测试电路中部署运算放大器，以便利用运算放大器来对微弱信号进行放大处理。

6、运算放大器的输出端连接模数转换器的输入端，模数转换器用于将运算放大器输出的模拟信号转换为数字信号。如此，通过在功耗测试电路中部署模数转换器，以便利用模数转换器来将模拟信号转换为数字信号，以便后续利用数字信号来确定功耗。

7、处理器用于基于多个待测试器件的采样信号参考值，确定该多个待测试器件的功耗测试次序；按照该多个待测试器件的功耗测试次序，控制多路复用器依次将各待测试器件对应的一组输入端与输出端导通，从模数转换器依次接收各待测试器件的采样信号测量值；基于该多个待测试器件的采样信号测量值，确定该多个待测试器件的功耗。

8、如此，通过引入多个待测试器件的采样信号参考值，基于各待测试器件的采样信号参考值，来确定各待测试器件的功耗测试次序。进而，按照各待测试器件的功耗测试次序，来依次导通各待测试器件的输入端。如此，实现了多路复用器的通道切换自动配置，使得多路复用器的轮询顺序不受物理连接的影响，提升了功耗测试的灵活性。且，在确定各待测试器件的功耗测试次序时，参考了各待测试器件的采样信号参考值，增加了确定功耗测试次序所参考的信息量，能够确定出功耗测试效果更好的功耗测试次序。

9、在第一方面的一种可能的实现方式中，该处理器，具体用于下述三种实现方式中的任一项。

10、一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的采样信号参考值，按照由高至低的次序，对该多个待测试器件的采样信号参考值进行排序，得到该多个待测试器件的功耗测试次序。也就是说，按照多个待测试器件的采样信号参考值的数值大小由高至低进行排序，将得到的排列次序，作为该多个待测试器件的功耗测试次序。

11、如此，通过采样信号参考值的数值大小由高至低进行排序，来确定多个待测试器件的功耗测试次序，使得所确定的功耗测试次序中采样信号参考值呈递减的趋势，能够确保功耗测试次序中相邻两个待测试器件的采样信号参考值较为接近。这样，能够缩短运算放大器的建立时间，进而有利于多路复用器的通道快速切换，从而能够有效提升功耗测试的效率。

12、又一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的采样信号参考值，按照由低至高的次序，对该多个待测试器件的采样信号参考值进行排序，得到该多个待测试器件的功耗测试次序。也就是说，按照多个待测试器件的采样信号参考值的数值大小由低至高进行排序，将得到的排列次序，作为该多个待测试器件的功耗测试次序。

13、如此，通过采样信号参考值的数值大小由低至高进行排序，来确定多个待测试器件的功耗测试次序，使得所确定的功耗测试次序中采样信号参考值呈递增的趋势，能够确保功耗测试次序中相邻两个待测试器件的采样信号参考值较为接近。这样，能够缩短运算放大器的建立时间，进而有利于多路复用器的通道快速切换，从而能够有效提升功耗测试的效率。

14、另一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的采样信号参考值，对该多个待测试器件的采样信号参考值进行聚类处理，得到聚类结果，基于该聚类结果确定该多个待测试器件的功耗测试次序。

15、也就是说，通过聚类处理将多个待测试器件的采样信号参考值划分为多个不同子集，使得每个子集内的采样信号参考值尽量相似，进而将同一子集内的采样信号参考值的排列次序靠近，从而得到该多个待测试器件的功耗测试次序。这样，能够缩短运算放大器的建立时间，进而有利于多路复用器的通道快速切换，从而能够有效提升功耗测试的效率。

16、在上述实现方式中，提供了三种确定功耗测试次序的方式，均能够快速且高效的确定出该多个待测试器件的功耗测试次序，确保了确定该多个待测试器件的功耗测试次序的效率。

17、在第一方面的另一种可能的实现方式中，该处理器还用于：

18、每间隔预设周期，获取该多个待测试器件的采样信号参考值。也就是说，每间隔预设周期，触发执行本技术提供的功耗测试方法。

19、或，响应于对该多个待测试器件的功耗测试指令，获取该多个待测试器件的采样信号参考值。也就是说，在触发对该多个待测试器件的功耗测试指令时，触发执行本技术提供的功耗测试方法。

20、在该种可能的实现方式中，提供了两种功耗测试的触发时机，提高了触发功耗测试的灵活性。

21、在第一方面的另一种可能的实现方式中，该处理器还用于下述两种实现方式中的任一项。

22、一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的状态信息，获取与各待测试器件的状态信息匹配的采样信号参考值。

23、其中，状态信息用于指示该待测试器件是否处于运行状态。可以理解的是，待测试器件处于不同运行状态的情况下，所产生的采样信号大小也不同。例如，在待测试器件处于运行状态的情况下，该待测试器件所产生的采样信号较大，而在待测试器件不处于运行状态的情况下，该待测试器件所产生的采样信号较小。

24、如此，提供了一种基于状态信息来获取待测试器件的采样信号参考值的方式，考虑到了待测试器件在不同运行状态下所产生的采样信号大小不同，因而，基于各待测试器件的状态信息，来获取与各待测试器件的状态信息匹配的采样信号参考值，能够获取到与各待测试器件当前运行状态匹配的采样信号参考值。如此，增加了获取采样信号参考值所参考的信息量，提高了获取采样信号参考值的准确度。

25、另一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的任务信息，获取与各待测试器件的任务信息匹配的采样信号参考值。

26、其中，任务信息用于指示该待测试器件所运行的任务类型。可以理解的是，待测试器件在运行不同类型的任务的情况下，所产生的采样信号大小也不同。例如，在待测试器件运行数据量较大或运算量较大的耗能任务的情况下，该待测试器件所产生的采样信号较大，而在待测试器件运行数据量较小或运算量较小的耗能任务的情况下，该待测试器件所产生的采样信号较小。

27、如此，提供了一种基于任务信息来获取待测试器件的采样信号参考值的方式，考虑到了待测试器件在运行不同类型的任务时所产生的采样信号大小不同，因而，基于各待测试器件的任务信息，来获取与各待测试器件的任务信息匹配的采样信号参考值，能够获取到与各待测试器件当前运行任务匹配的采样信号参考值。如此，增加了获取采样信号参考值所参考的信息量，提高了获取采样信号参考值的准确度。

28、在上述实现方式中，提供了两种获取采样信号参考值的方式，均能够快速且高效的获取多个待测试器件的采样信号参考值，确保了获取多个待测试器件的采样信号参考值的效率。

29、在第一方面的另一种可能的实现方式中，该采样信号为电压信号。需要说明的是，各电子器件和为其供电的电源之间存在信号通路，可通过检测信号通路中传输的电流信号，基于电流信号的电流值来计算各电子器件的功耗。本技术实施例中，可以在信号通路中为待测试器件串联一个电阻，如在该待测试器件的电源板级处串联一个电阻。进而，通过检测该电阻两端的电压信号，基于电压信号的电压值来计算电流值，进而基于电流值计算待测试器件的功耗。

30、第二方面，提供了一种功耗测试方法，应用于上述第一方面所示的功耗测试电路，该方法包括：

31、基于多个待测试器件的采样信号参考值，确定该多个待测试器件的功耗测试次序。其中，待测试器件用于指代待进行功耗测试的电子器件。采样信号参考值用于描述待测试器件可能产生的采样信号大小。

32、并且，按照该多个待测试器件的功耗测试次序，控制多路复用器依次将各待测试器件对应的一组输入端与输出端导通，从模数转换器依次接收各待测试器件的采样信号测量值。也就是说，按照该多个待测试器件的功耗测试次序，在一个待测试器件对应的一组输入端与输出端导通，并得到该待测试器件的采样信号测量值之后，再将下一个待测试器件对应的一组输入端与输出端导通。

33、进而，基于该多个待测试器件的采样信号测量值，确定该多个待测试器件的功耗。

34、在上述技术方案中，通过引入多个待测试器件的采样信号参考值，基于各待测试器件的采样信号参考值，来确定各待测试器件的功耗测试次序。进而，按照各待测试器件的功耗测试次序，来依次导通各待测试器件的输入端。如此，实现了多路复用器的通道切换自动配置，使得多路复用器的轮询顺序不受物理连接的影响，提升了功耗测试的灵活性。且，在确定各待测试器件的功耗测试次序时，参考了各待测试器件的采样信号参考值，增加了确定功耗测试次序所参考的信息量，能够确定出功耗测试效果更好的功耗测试次序。

35、在第二方面的一种可能的实现方式中，基于多个待测试器件的采样信号参考值，确定该多个待测试器件的功耗测试次序，可以包括下述三种实现方式中的任一项。

36、一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的采样信号参考值，按照由高至低的次序，对该多个待测试器件的采样信号参考值进行排序，得到该多个待测试器件的功耗测试次序。

37、又一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的采样信号参考值，按照由低至高的次序，对该多个待测试器件的采样信号参考值进行排序，得到该多个待测试器件的功耗测试次序。

38、另一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的采样信号参考值，对该多个待测试器件的采样信号参考值进行聚类处理，得到聚类结果，基于该聚类结果确定该多个待测试器件的功耗测试次序。

39、在第二方面的另一种可能的实现方式中，该方法还包括：

40、每间隔预设周期，获取该多个待测试器件的采样信号参考值。

41、或者，响应于对该多个待测试器件的功耗测试指令，获取该多个待测试器件的采样信号参考值。

42、在第二方面的另一种可能的实现方式中，获取多个待测试器件的采样信号参考值，可以包括下述两种实现方式中的任一项。

43、一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的状态信息，获取与各待测试器件的状态信息匹配的采样信号参考值。

44、另一种可能的实现方式中，基于该多个待测试器件的任务信息，获取与各待测试器件的任务信息匹配的采样信号参考值。

45、在第二方面的另一种可能的实现方式中，该采样信号为电压信号。

46、第三方面，本技术提供了一种电子设备，包括：处理器和存储器。存储器用于存储程序代码，处理器用于调用存储器存储的程序代码，从而实现第二方面提供的任意一种方法。

47、第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，包括程序代码，程序代码在电子设备上运行时，使得电子设备执行第二方面提供的任意一种方法。

48、第五方面，提供了一种计算机程序产品，包括程序代码，程序代码在电子设备上运行时，使得电子设备执行第二方面提供的任意一种方法。

49、需要说明的是，第三方面至第五方面中的任一种实现方式所带来的技术效果可参见第二方面中对应实现方式所带来的技术效果，此处不再赘述。