技术编号：37158879
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及芯片测试，尤其是涉及一种芯片测试器、其制造方法及芯片测试装置。背景技术、芯片测试器是一种用于对芯片进行测试的器械，其包括绝缘基板、设于绝缘基板上的多根测试针，该多根测试针的一端部与电路板连接、另一端部为测试端，通过多个测试端与芯片侧部的引脚接触从而实现对芯片的测试。上述的芯片测试器在制造时，需要预先加工出多根测试针，随后将多根测试针逐个贴合在绝缘基板上，并使测试针的一端部突出于绝缘基板，以与芯片侧部的引脚相接触。、针对上述的相关方案，发明人认为存在以下缺陷：第一，将多根测试针逐个贴...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。