技术编号:37186323
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电学测量,特别涉及一种显示面板内部tft器件电学性能测量方法。背景技术、在各项显示技术中均会使用阵列基板用于驱动电路,其中有源矩阵驱动技术是目前最成熟的技术,其是在每个像素上设计一个非线性的有源器件,使得每个像素可以被独立控制。、tft器件的功能是作为三端子开关用于电路的开断,tft的特性决定了显示面板的优劣,实际生产中具体工艺和结构会影响tft开关器件的特性,并且在经过长期使用后,不同使用状态的tft器件其特性也会有不同的变化,如何能够得到tft器件的变化程度是在设计开发仿真过程...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。