技术编号:37201245
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请属于芯片自动化测试,具体涉及一种多时钟并行装置及芯片测试机。背景技术、芯片测试,指的是利用自动测试设备(automatic test equipment,ate)对被测器件(device under test,dut)的各项参数指标进行检测,剔除残次品以控制芯片的出厂品质。、在芯片自动化测试中的时钟是非常重要的一个参数,关乎整个测试机的运行,时钟异常可能会导致多种问题。、现有技术中,芯片自动化测试设备都是采用单时钟。依靠单时钟分开在模块中使用,而没有贯穿整个模块,那么进行时钟同步就是...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。