技术编号：37351273
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于芯片测试设备，具体是涉及一种芯片自动测试装置。背景技术、随着科技的发展，越来越多的电路与器件趋向集成化、芯片化，而芯片自动测试装置用于对芯片、集成电路和其他电子器件进行功能、性能和可靠性测试的设备。、但现有的芯片自动测试装置仍存在一些不足之处；、、常见的检测设备制作成本太高，难以满足批量测试，而且常见的芯片测试装置在芯片初步转移定位时，测试探针接触芯片后形成固定支点，由于平台表面过于平滑，使得芯片会发生偏移，影响测试效率；、、对芯片进行检测的探针控制不当容易划伤芯片表面，从...
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