一种芯片自动测试装置的制作方法

本发明属于芯片测试设备，具体是涉及一种芯片自动测试装置。

背景技术：

1、随着科技的发展，越来越多的电路与器件趋向集成化、芯片化，而芯片自动测试装置用于对芯片、集成电路和其他电子器件进行功能、性能和可靠性测试的设备。

2、但现有的芯片自动测试装置仍存在一些不足之处；

3、1、常见的检测设备制作成本太高，难以满足批量测试，而且常见的芯片测试装置在芯片初步转移定位时，测试探针接触芯片后形成固定支点，由于平台表面过于平滑，使得芯片会发生偏移，影响测试效率；

4、2、对芯片进行检测的探针控制不当容易划伤芯片表面，从而大大影响测试的准确性，并且尤其在微小芯片摆正中，其难以精准与探针进行接触，导致芯片易出现接触不良影响检测的结果，后期仍需工作人员主动摆正复位，增加了工作强度，降低了检测效率。

技术实现思路

1、本发明主要是解决上述平台表面过于平滑，使得芯片会发生偏移，影响测试效率，其难以精准与探针进行接触，导致芯片易出现接触不良影响检测的结果所存在的技术问题，提供一种芯片自动测试装置。

2、本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种芯片自动测试装置，包括：工作平台、底板和检测机构，所述工作平台与底板滑动卡接，所述检测机构位于工作平台上方，所述工作平台上表面固定连接有两个卡块三，两个所述卡块三上表面固定连接有支撑块，所述支撑块前表面设置有电机，所述检测机构下表面固定连接有u型板，所述u型板下表面固定连接有两个连接柱，两个所述连接柱下表面均固定连接有固定板一，两个所述固定板一下表面均固定连接有卡块一，两个所述卡块一均与工作平台固定连接，所述工作平台上表面开设有两个卡槽一，所述底板下表面转动连接有两对滚轮，两对所述滚轮分别与两个卡槽一滑动卡接，工作平台上表面固定连接有卡块二，所述卡块二内转动连接有螺纹杆一，其中，所述底板上表面固定连接有连接块一、吸气泵、连接块二且转动连接有圆柱，所述圆柱环型侧面固定连接有齿轮三且活动套接有固定板二，所述固定板二内螺纹套接有螺纹杆二，所述螺纹杆二环型侧面固定连接有齿轮四，所述吸气泵进气口固定连接有连接管一，所述圆柱上表面活动卡接有载物台，所述载物台上表面固定连接有圆环块一，所述圆环块一上表面固定连接有u型块，所述连接块一和连接块二内分别活动套接有圆杆一和圆杆二，所述圆柱环型侧面固定连接有两个限位块，所述支撑块上表面开设有两个卡槽二，所述螺纹杆二在底板和u型板之间转动连接，所述固定板二上表面固定连接有圆块二，其中，所述圆块二与载物台贴合。

3、作为本发明的一种优选技术方案，所述支撑块内转动连接有传送带，其中，所述传送带连接轴与电机输出轴固定连接，两个所述卡槽二中位于前方的卡槽二内固定连接有气缸，其中，两个所述卡槽二中位于后方的卡槽二与u型块固定连接。

4、作为本发明的一种优选技术方案，所述圆杆二和圆杆一后表面分别固定连接有齿轮二和齿轮一，其中，所述齿轮二和齿轮一分别与齿轮四和齿轮三啮合，所述载物台下表面开设有限位槽，其中，所述限位槽与两个限位块活动卡接。

5、作为本发明的一种优选技术方案，所述载物台右表面开设有孔洞二，所述孔洞二呈l型开设与载物台上表面贯穿，其中，所述孔洞二内活动套接有连接管二，所述连接管二与连接管一固定连接，所述底板右表面开设有孔洞一，其中，所述孔洞一与螺纹杆一螺纹套接。

6、作为本发明的一种优选技术方案，所述载物台上表面固定连接有圆块一，其中，所述圆块一与孔洞二贯通，所述连接管二左表面固定连接有圆环块二，其中，所述圆环块二与圆块一贴合。

7、本发明具有的有益效果：

8、1、根据不同大小厚度的芯片也需要对其与探针的间距进行调整，转动圆杆二带动与其固定连接的齿轮二和螺纹杆二上固定连接的齿轮四进行啮合，而螺纹杆二在底板和u型板之间转动连接，当圆杆二进行转动时螺纹杆二上套接的固定板二通过螺纹作用进行上下活动，而固定板二上固定连接的圆块二与载物台进行贴合，固定板二本身与圆柱为活动套接，保证在使用过程中的稳定性，在固定板二上升过程中也带动载物台进行上升，此时可以根据芯片大小调整与探针的间距，保证二者的充分接触，从而提高检测结果的准确性。

9、2、底板上转动连接有圆柱，圆柱上方活动卡接有载物台，载物台上表面固定连接有由圆环块一和u型块组合的导向结构，工作平台上设置有由支撑块、气缸和电机组合的传送结构，当芯片在支撑块内设置的传送带上进行传送时，通过控制气缸和电机的速度，启动气缸将传送带上的芯片进行推动通过导向结构进入载物台上，结构简单，操作方便，自动化程度高。

10、3、传统对芯片进行固定方式过于繁琐，容易对芯片造成损坏，启动吸气泵，使圆环块二产生吸力通过连接管二和连接管一进行输送，圆环块二和圆块一贯通，圆块一固定连接在载物台上，此时位于载物台上的芯片被吸力移动至圆块一上进行固定，保证在使用过程中的稳定性，相对于传统的卡扣固定此结构更加实用与简便。

11、4、通过吸力对芯片进行固定但不能保证其位置的准确性，通过转动圆杆一带动其上固定连接的齿轮一和圆柱上固定连接的齿轮三进行啮合，圆柱转动连接在底板上，通过控制圆杆一的转动可以对圆柱上卡接的载物台进行转动调整，保证其方位与检测机构上的探针一致，此结构便于微小的调整方位，使用方便。

12、5、工作平台上方设置有检测机构，底板通过与其转动连接的滚轮在工作平台上进行滑动，底板右侧螺纹套接有螺纹杆一，螺纹杆一转动连接在卡块二内，卡块二固定连接在工作平台上，通过转动螺纹杆一控制底板进行左右移动，进行位置调整，手动控制可以更好的满足使用需求。

技术特征：

1.一种芯片自动测试装置，其特征在于，包括：工作平台(1)、底板(2)和检测机构(3)；所述工作平台(1)与底板(2)滑动卡接，所述检测机构(3)位于工作平台(1)上方，所述工作平台(1)上表面固定连接有两个卡块三(23)，两个所述卡块三(23)上表面固定连接有支撑块(4)，所述支撑块(4)前表面设置有电机(5)，所述检测机构(3)下表面固定连接有u型板(6)，所述u型板(6)下表面固定连接有两个连接柱(8)，两个所述连接柱(8)下表面均固定连接有固定板一(7)，两个所述固定板一(7)下表面均固定连接有卡块一(9)，两个所述卡块一(9)均与工作平台(1)固定连接，所述工作平台(1)上表面开设有两个卡槽一(10)，所述底板(2)下表面转动连接有两对滚轮(16)，两对所述滚轮(16)分别与两个卡槽一(10)滑动卡接，工作平台(1)上表面固定连接有卡块二(12)，所述卡块二(12)内转动连接有螺纹杆一(13)；

2.如权利要求1所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述固定板二(35)上表面固定连接有圆块二(33)；

3.如权利要求2所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述支撑块(4)内转动连接有传送带(20)；

4.如权利要求3所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：两个所述卡槽二(21)中位于前方的卡槽二(21)内固定连接有气缸(22)；

5.如权利要求4所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述圆杆二(29)和圆杆一(19)后表面分别固定连接有齿轮二(28)和齿轮一(25)；

6.如权利要求5所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述载物台(14)下表面开设有限位槽(39)；

7.如权利要求6所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述载物台(14)右表面开设有孔洞二(38)，所述孔洞二(38)呈l型开设与载物台(14)上表面贯穿；

8.如权利要求7所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述底板(2)右表面开设有孔洞一(17)；

9.如权利要求8所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述载物台(14)上表面固定连接有圆块一(26)；

10.如权利要求9所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述连接管二(37)左表面固定连接有圆环块二(41)；

技术总结
本发明公开了一种芯片自动测试装置，涉及芯片测试技术领域，该一种芯片自动测试装置，包括：工作平台、底板和检测机构,工作平台与底板滑动卡接，检测机构位于工作平台上方，工作平台上表面固定连接有两个卡块三，两个卡块三上表面固定连接有支撑块，支撑块前表面设置有电机，检测机构下表面固定连接有U型板，U型板下表面固定连接有两个连接柱，本发明通过根据不同大小厚度的芯片也需要对其与探针的间距进行调整，转动圆杆二带动与其固定连接的齿轮二和螺纹杆二上固定连接的齿轮四进行啮合，而螺纹杆二在底板和U型板之间转动连接，当圆杆二进行转动时螺纹杆二上套接的固定板二通过螺纹作用进行上下活动。

技术研发人员：金燕,王黎明,钱月娟,周杨,朱彩凤,童海燕,钱敏
受保护的技术使用者：浙江明德微电子股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/17