用于智能卡存储器的测试装置、测试系统及测试方法与流程技术资料下载

技术编号:37428474

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本申请涉及芯片测试,例如涉及一种用于智能卡存储器的测试装置、测试系统及测试方法。背景技术、智能卡芯片(例如,集成电路ic)是电子设备的核心组成部分,为了保证电子设备运行的稳定性,需要对智能卡芯片进行可靠性试验。、智能卡芯片测试较多采用以下方式:圆片级存储器测试采用了探针卡扎针,使用自动测试仪通过测试接口进行存储器测试,而成品的智能卡芯片基本都是通过电脑、读卡器或者自动测试仪等设备进行测试。、在实现本公开实施例的过程中,发现相关技术中至少存在如下问题:、相关技术中的测试方法,智能卡芯片做高...
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