技术编号:37466961
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及半导体激光芯片领域,特别是涉及一种半导体激光器的测试系统及测试装置。背景技术、随着半导体激光输出功率越来越高,半导体激光芯片在工作中会产生更多的废热,废热会极大的影响半导体激光芯片的性能参数表征,因此,在对半导体激光器性能进行测试时,要求半导体激光器测试系统有较高的散热性能。半导体激光器测试系统散热的好坏,直接影响半导体激光器测试表征的性能参数是否准确。因此,需要一套散热性能高的半导体激光器测试系统。技术实现思路、为了解决上述的技术问题,本申请提供了一种半导体激光器的测试系统,所述...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。