技术编号:37470433
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。所述的实施方案整体涉及在测量期间利用多个发射器来产生光的光学测量系统。更具体地,所述的实施方案包括可在测量期间选择性地调整从多个发射器发射的光的相位以减少相干噪声的光学测量系统。背景技术、光学测量系统可用于识别在该光学测量系统周围的环境中的对象或物质的存在、类型和/或一个或多个特性。取决于光学测量系统正在测量的内容(例如,正在测量的样品的类型或特性),单独测量的信噪比(“snr”)可能受不同噪声源限制。例如,相干噪声源诸如散斑噪声在许多情况下可能限制snr。因此,可能期望配置光学测量系统以减少...
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