技术编号：37474938
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及测控雷达，尤其涉及一种测控雷达标校方法、装置、电子设备和存储介质。背景技术、测控雷达执行航天器测量跟踪及获取航天器运动状态参数之前，为提高设备的测量精度，通常要对其进行标校。标校的主要任务就是高精度测量出测控雷达测角、测距传感器的零偏值，分离出系统误差、并进行精度评估，然后对测控雷达执行任务过程中的实际观测数据进行误差修正，从而获得高精度的航天器轨道及外弹道参数。其中测定测控雷达天线中心点位置及其坐标是标校的第一项任务，也是最重要的环节，直接关系到后续测量数据的准确性。、测控雷达设...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。