测控雷达标校方法、装置、电子设备和存储介质

本申请涉及测控雷达，尤其涉及一种测控雷达标校方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术：

1、测控雷达执行航天器测量跟踪及获取航天器运动状态参数之前，为提高设备的测量精度，通常要对其进行标校。标校的主要任务就是高精度测量出测控雷达测角、测距传感器的零偏值，分离出系统误差、并进行精度评估，然后对测控雷达执行任务过程中的实际观测数据进行误差修正，从而获得高精度的航天器轨道及外弹道参数。其中测定测控雷达天线中心点位置及其坐标是标校的第一项任务，也是最重要的环节，直接关系到后续测量数据的准确性。

2、测控雷达设备的中心点是雷达所有观测量的起算点，客观存在于天线基座实体内，无法钻入内部进行测量。如果准确方便的测量到测控雷达的中心点是需要解决的问题。

技术实现思路

1、本公开的实施例提供了一种测控雷达标校方法、装置、电子设备和存储介质。

2、第一方面，本公开的实施例提供了一种测控雷达标校方法，包括：获取第一位置数据和第二位置数据，其中，第一位置数据是至少两个天线接收器在水平面的不同位置处采集到的，第二位置数据是至少两个天线接收器在竖直面的不同位置处采集到的，至少两个天线接收器安装于测控雷达的边缘；根据第一位置数据，确定测控雷达的竖轴；根据第二位置数据，确定测控雷达的至少两条横轴；根据竖轴以及至少两条横轴，确定测控雷达的中心点；基于中心点，对测控雷达进行标校。

3、第二方面，本公开的实施例提供了一种测控雷达标校装置，包括：位置获取单元，被配置成获取第一位置数据和第二位置数据，其中，第一位置数据是至少两个天线接收器在水平面的不同位置处采集到的，第二位置数据是至少两个天线接收器在竖直面的不同位置处采集到的，至少两个天线接收器安装于测控雷达的边缘；竖轴确定单元，被配置成根据第一位置数据，确定测控雷达的竖轴；横轴确定单元，被配置成根据第二位置数据，确定测控雷达的至少两条横轴；中心点确定单元，被配置成根据竖轴以及至少两条横轴，确定测控雷达的中心点；雷达标校单元，被配置成基于中心点，对测控雷达进行标校。

4、第三方面，本公开的实施例提供了一种电子设备，包括存储器、处理器、总线及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所描述的测控雷达标校方法。

5、第四方面，本公开的实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所描述的测控雷达标校方法。

6、应用本公开的技术方案，可以通过将至少两个天线接收器安置在测控雷达的边缘，通过控制测控雷达分别在水平面转动和在垂直面转动，并根据各天线接收器在各个位置处接收到的定位数据，实现对测控雷达的横轴和竖轴的确定，进而能够确定测控雷达的中心点，为测控雷达的标校提供基础。本公开的方法，标校难度小，并且标校精度高。

7、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种测控雷达标校方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述获取第一位置数据和第二位置数据，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述获取第一位置数据和第二位置数据，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述根据所述第一位置数据，确定所述测控雷达的竖轴，包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述天线接收器包括主天线和副天线；以及

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述竖轴以及所述至少两条横轴，确定所述测控雷达的中心点，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述根据所述竖轴以及所述至少两条横轴，确定所述测控雷达的中心点，包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述竖轴的权重大于所述至少两条横轴的权重。

9.一种测控雷达标校装置，包括：

10.一种电子设备，包括存储器、处理器、总线及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述的测控雷达标校方法。

11.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的测控雷达标校方法。

技术总结
本公开涉及一种测控雷达标校方法、装置、电子设备和存储介质，涉及测控雷达技术领域。其中的方法包括：获取第一位置数据和第二位置数据，其中，第一位置数据是至少两个天线接收器在水平面的不同位置处采集到的，第二位置数据是至少两个天线接收器在竖直面的不同位置处采集到的，至少两个天线接收器安装于测控雷达的边缘；根据第一位置数据，确定测控雷达的竖轴；根据第二位置数据，确定测控雷达的至少两条横轴；根据竖轴以及至少两条横轴，确定测控雷达的中心点；基于中心点，对测控雷达进行标校。应用本公开可以实现对测控雷达的中心点的确定，为测控雷达的标校提供基础，标校难度小，并且标校精度高。

技术研发人员：李春燕,李倩,邢志斌,孟瑶,徐俊峰,胡长德,许定根,任思衡
受保护的技术使用者：中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校
技术研发日：
技术公布日：2024/3/27