技术编号：37536286
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及半导体芯片检测设备，特别是涉及一种用于半导体芯片的视觉检测夹具。背景技术、质检是整个半导体芯片生产过程中不可缺少的步骤之一。在目前的半导体芯片质量检查环节中，普遍使用人工检查的方式来判断芯片印刷的正确性。、但是，在这种检测方式时，主要依靠操作人员的经验进行判断，精准性很差，而且人眼很容易产生疲劳，造成工作效率和产能的下降，另外，每次检查的工作记录以及出现的问题等信息无法进行追溯查询，不方便后期的总结和调阅。技术实现思路、本实用新型提供了一种用于半导体芯片的视觉检测夹具，具有可靠性...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。