技术编号:37643974
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及计算机处理,具体而言,涉及一种点云数据处理方法、装置、电子设备及存储介质。背景技术、在tft-lcd产品生产过程中,cf生产中的ps(photo spacer),其作用是用来维持cf和tft的gap的柱子,向由这些形成的空间注入液晶。这些柱子高度需要进行控制。被测柱体在um级别。被测目标的检测精度需要控制在nm级别,测量过程中接触测量会影响产品质量,采用非接触测量的方式。、目前对半导体领域产品质量管控,采用白光干涉检测方式。测量工件的高度,以监测生产工艺中的质量问题。白光干涉仪扫描...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。