建立光学邻近效应修正模型的方法、电子设备和存储介质与流程技术资料下载

技术编号:37855845

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本公开的实施例主要涉及集成电路,并且更具体地,涉及用于建立光学邻近效应修正(opc)模型的方法、设备和计算机可读存储介质。背景技术、光刻是集成电路制造过程中的关键工艺。光刻工艺利用光化学反应原理和化学、物理刻蚀方法,将事先制备在掩模上的图案转印到衬底上。光刻工艺过程可以用光学和化学模型,借助数学公式来描述。光照射在掩模上发生衍射,衍射被投影透视镜收集并会聚在光刻胶表面,这一成像过程是光学过程。投影在光刻胶上的图像激发光化学反应,烘烤后导致光刻胶局部可溶于显影液,这是化学过程。、通常,掩模上的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。

详细技术文档下载地址↓↓

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
该分类下的技术专家--如需求助专家,请联系客服
  • 孙老师:1.机机器人技术 2.机器视觉 3.网络控制系统
  • 杨老师:物理电子学