用于制造包括两个半导体管芯的器件的方法及其器件与流程技术资料下载

技术编号:37857415

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本公开的实施例涉及一种用于制造包括两个半导体管芯的器件的方法以及由此获得的器件。此外,本公开的实施例涉及芯片级封装(csp)器件,其包括微机电系统(mems)管芯(例如mems传感器)和集成电子组件的半导体管芯(例如专用集成电路(asic))。背景技术、众所周知,集成mems器件的管芯在一侧(通常是顶侧)由通常由另一管芯制成的帽保护。此外,它们通常与包含用于控制和/或预处理由mems器件(例如asic)提供的信号和数据的电子电路的管芯相关联,以便形成mems器件。因此,在下文中,将参考由mem...
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