技术编号：37925499
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测厚仪，尤其涉及可调节检测角度的测厚设备。背景技术、测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。测厚仪的类型多样，其中包括x射线测厚仪。x射线测厚仪在使用时，由x射线发生器发射的x射线穿过被测材料如料带，x射线与被测物质中的原子相互作用，其中一部分被散射或吸收，另一部分透过被测物质并由探测器接收，由探测器测量透射的x射线的强度，根据光学远离和材料的密度-厚度关系，来确定被测材料的厚度。、x射线测厚仪在对料带进行测厚时，其x射线发生器和探测器通常...
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