技术编号:445405
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及折射率成像,更具体地说涉及一种改变体积相位全息图的波长响应的方法。在折射率成像中,折射率变化的图形(通常称为相位全息图)是在用于记录影像的物质中产生的。通过让相干光的参比光束和物光束从相反的侧面进入记录介质,因而它们在近似相反的方向上穿过介质,这样形成的全息图就称为“反射全息图”。物光束和参比光束在记录介质中的相交形成了具有不同折射率的相干物质条纹。相干条纹位于与记录介质平面大致平行的平面中,并反射用于产生条纹的大致相同波长的光。因此,全息图是以反射的形式被看到的。已有各种各样的材料被用来记录体全...
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