技术编号：5271320
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种铁电晶体表面电畴结构的无损检测方法及其静电微粒显示剂。背景技术 由于在非线性光学、压电、热电和电光效应等方面所具有的特殊物理性质，铁电晶体在工业生产和科研领域已被广泛的研究和应用。例如，电视机中的电子调谐器、手机里的微波天线、热电探测器与热电成像仪、最近已经商品化的铁电存储器(FRAM)以及尚在实验室阶段的固态激光倍频器件等所用到的工作介质大多为铁电晶体。对于铁电晶体，其本质特征是具有自发极化、并形成一定的铁电畴结构组态。而前面所提到的工业应...
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