技术编号：5821165
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明有关于 一 种数据队列(data queue)测试方法以及得以实现该种数据队列测试方法的数据队列装置。背景技术传统的芯片测试技术在测试一芯片之前，必须以计算机先 模拟该芯片的动作，求取对应 一 组须'j试输入数据的 一 组理想输 出数据。之后，此待测芯片必须安装于一测试机台上。该测试 机台将把该组测试输入数据输入该芯片，并且提供一时脉读取 该芯片的输出端。此测试机台将把读取到的输出数据与上述理 想输出数据逐一比较，以判断该芯片是否正常运作。然而，随着...
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