技术编号：5821766
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。各示例实施例涉及在半导体器件中检测通电和断电的方法和电路。 背景技术因为电子系统不断地变得更小，所以有关减少由半导体器件耗散的功率 的研究已经增加。例如，半导体器件中的各等待电路块可依赖于操作模式断 电，以便降低功耗。在断电状态中，电路块不完全断电，但是关闭包括在该 电路块中的电流源以减少漏电流。通电时间和断电时间可包括在半导体存储器器件的测试说明书中。 在检测通电或断电的传统方法中，通过测量流过电路的平均电流确定该 电路进入断电模式还是退出断电模式。因为...
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